Préparation des matières premières ND: YLF par méthode de fusion et étudiez sur leur croissance cristalline et leurs propriétés - 03

2 résultats et discussion

La figure 4 est le spectre XRD du matériau polycristallin préparé par la méthode de fusion. Sa position de pic de diffraction et son intensité relative sont essentiellement cohérentes avec la carte standard YLF (PDF # 00-017-0874), et l'accord est bon, indiquant que le matériau polycristallin est purYLFphase, sans impuretés telles que les oxydes de fluor, yf₃et lif, et l'incorporation de n³⁺N'a aucun effet sur la structure du cristal matriciel. Par conséquent, la polycristalline nd: ylf(www.wisoptic.com)La matière première préparée par la méthode de fusion a une pureté de phase cristalline élevée, ce qui améliore la capacité de la matière première à résister à l'oxydation et à la déliquescence, et est une matière première idéale pour une croissance cristalline de haute qualité. L'analyse montre que la structure du dispositif de fusion presque fermé utilisé dans cette étude peut obtenir un champ de température avec une distribution de température très uniforme. Dans le même temps, faire fondre la matière première à une température légèrement supérieure au point de fusion de Nd: YLF peut obtenir une réaction complète de la matière première et obtenir une phase pure ND: YLF; Dans le même temps, en récupérant complètement l'oxyde de fluor flottant à la surface de la fusion, la haute pureté de la matière première polycristalline ND: YLF est en outre garantie.

Fig. 4 Modèle XRD des matériaux polycristallins de la méthode de fusion

Comme le montre la figure 3, une couche de composé opaque blanche est fixée à la surface du cristal cultivé par la matière première mélangée, alors qu'il n'y a pas de substance de ce type à la surface du cristal cultivé par la matière première préparée par la méthode de fusion. La substance blanche a été testée et analysée par XRD, et les résultats des tests sont illustrés à la figure 5. Le spectre XRD a été analysé par le logiciel MDI Jade, et il a été constaté qu'en plus de YLF, ses principaux composants contenaient également une grande quantité de YOF. Cela peut être causé par la présence de YOF dans la matière première initiale; il peut également être causé par la réaction de yf₃dans la matière première initiale avec la trace de h₂O libéré dans le four de croissance à mesure que la température augmente dans l'atmosphère AR, comme indiqué dansFOrmula (1), et adhéré à la surface du cristal cultivé pendant le processus de croissance des cristaux.

H₂O＋Yf₃→ yof＋2HF ↑(1)

Fig. 5 Modèle de blancheur XRD à partir de cristal cultivé avec des matières premières à composants mixtes

La surface externe du cristal cultivé par la méthode de fusion est attachée avec une petite quantité de substance noire, qui est formée par lecarbonevolatilisé à partir du creuset en graphite.

La figure 6 montre la courbe de bascule monocristallière de l'échantillon avec (100) orientation cristalline. La courbe à bascule monocristallière est une méthode traditionnelle pour caractériser la qualité du cristal. Plus le FWHM est petit, meilleure est la qualité des cristaux et plus la composition et la structure cristallines sont uniformes. On peut voir que la courbe de balancement sur la figure n'a qu'un seul pic de diffraction, aucune fractionnement ne se produit, est symétrique, a une forme de pic pointue et une largeur demi-hauteur de 0,007 °, indiquant que le cristal Nd: Ylf cultivé(www.wisoptic.com)a une bonne qualité de cristal.

Fig. 6 Courbe de bascule des rayons Xde nd: ylf cristal